微区扫描电化学是一个精密的扫描微电极系统，具有*空间分辨率。它在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。SECM与EC-STM、EC-AFM具有互补性，EC-STM和EC-AFM是对溶液中样品表面进行原子级和纳米级成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展现了电化学过程的表面物理图像。而SECM则用于检测、分析或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。SECM具有高分辨率、易操作、测试样品更接近实际应用情况等特点，适用于分析研究各种实时和原位的电化学反应过程。EC-STM和EC-AFM强调的是结果，而SECM注重的是过程和结果。
SECM有很多潜在的应用，目前主要用于电沉积和腐蚀科学中的表面反应过程基础研究、酶稳定性研究、生物大分子的电化学反应特性以及微机电系统（MEMS）等领域。
SVET-SKP系统工作特点：
1．非接触测量，不干扰测定体系；
2. 对界面区状态的变化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，
应力分布，界面区化学分布，电化学分布的变化；
3. 测定金属、绝缘膜下金属和半导体电位分布；
4. 10E-12A~10E-1 数量级的极弱交流信号的测量，测定装置必须具
有很高的抗干扰能力；
5．在线（In-situ）图示样品微区电化学和样品表面变化过程等；
6．一维、二维和三维图示与分析（3D软件为标配）；
7．特别适用液相和大气环境下的材料表面和界面的微区显微分析。
SVET与SKP系统的结合
SRET和SVET主要测量材料在液体电解质环境下的局部电化学反应过程；SKP能够测量材料在不同湿度大气环境下，甚至其它气体环境下的微区特性及其随环境变化过程等。现在公司将用于液体电解质环境下的局部电化学反应过程的SVET和用于大气环境下的SKP技术有机的结合在一起，极大地拓展了您的研究领域，有效地利用资源，降低了您的购买费用。扫描振动参比电极系统是利用振动电极和锁相放大器消除微区扫描中的噪声干扰,提高测量精度. SVET系统具有高灵敏度,非破坏性,可进行电化学活性测量的特点.它可进行线性或面扫描,研究局部腐蚀（如电蚀和应力腐蚀的产生,发展等）,表面涂层及缓蚀剂的评价等方面的研究,扫描振动探针（SVET）是在液态腐蚀环境下,进行腐蚀研究的有力工具,它能检测小于5uA/cm2的原位腐蚀。
销售热线： 
