'

产品目录

PRODUCTmore>>

新闻中心

NEWS当前位置:首页 > 新闻中心 > 微区扫描电化学需不断提高科技含量
微区扫描电化学需不断提高科技含量
点击次数:515 发布时间:2016-11-17
微区扫描电化学需不断提高科技含量
    微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。 微区扫描电化学是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率,长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上,辅助选件包括,如电位计,压电振动单元,或者激光传感器,为不同扫描探针试验,定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起,由以太网来控制,保证小信号的测量。微区扫描电化学是一个模块化配置的系统,可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试: Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜 Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试 Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试 Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区扫描电化学阻抗测试 Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试 Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试 以上每项技术使用不同的测量探针,且安装位置与样品非常接近,但是不接触到样品。随着探针测试的进行,改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图,针对不同技术,该图可以呈现微区电化学电流,阻抗,相对功函或者是表面形貌图。
    微区扫描电化学阻抗技术(LEIS)能确定局部区域固/液界面的阻抗行为及相应参数,如局部腐蚀速率、涂层(有机、无机)完整性和均匀性、涂层下或与金属界面间的局部腐蚀、缓蚀剂性能及不锈钢钝化/再钝化等多种电化学界面特性。微区扫描电化学阻抗技术是向被测电极施加一微扰电压,从而感生出交变电流,通过使用两个铂微电极确定金属表面上局部溶液交流电流密度来测量局部阻抗的技术。
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站